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光學(xué)膜厚儀作為現(xiàn)代材料科學(xué)中至關(guān)重要的精密測量工具，其核心原理基于光的干涉現(xiàn)象與薄膜光學(xué)特性。當(dāng)一束光波照射至透明或半透明薄膜表面時，部分光在膜層上表面反射，另一部分穿透膜層后在下表面反射，兩束反射光因光程差產(chǎn)生干涉現(xiàn)象。通過分析干涉圖樣的...
翹曲度測量儀是一種常用的測試工具，可以有效地檢測材料彎曲過程中的翹曲變形程度。在選擇一款好用的翹曲度測量儀時，需要關(guān)注以下幾個重要因素：1.測量精度：測量精度是選擇儀器最關(guān)鍵的考慮因素之一。高精度的儀器能夠準(zhǔn)確地測量材料的翹曲度，并能提供可靠的測試結(jié)果。因此，在選擇時，應(yīng)該優(yōu)先考慮測量精度。2.測量范圍：不同的翹曲度測量儀具有不同的測量范圍。在選擇時，應(yīng)該根據(jù)所需測量的材料類型以及尺寸大小來確定所需的測量范圍。如果需要測量大型材料，則需要選擇測量范圍更廣的型號。3.操作便捷性...
薄膜厚度測量儀是一款高精度、高重復(fù)性的機械接觸式精密測厚儀，專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測量。目前，薄膜厚度測量儀可選配自動進樣機，更加準(zhǔn)確、高效的進行連續(xù)多點測量。應(yīng)用：1.對有些材料而言，厚度測量是衡量材料質(zhì)量的基礎(chǔ)手段；2.測量的對象往往是對厚度有較高要求的材料，例如薄膜、塑料、橡膠、紙張、紡織品、金屬箔片（鋁箔、銅箔、錫箔等）、板材等等。測量厚度的目的也逐漸由控制外觀質(zhì)量發(fā)展成為保證材料進一步完...
HerzAVI系列主動式防震臺是一種先進的防震設(shè)備，它采用了主動控制技術(shù)，在地震或其他振動發(fā)生時能夠通過智能控制系統(tǒng)實時調(diào)整臺面的位移和加速度，從而大幅減少建筑物受到的震動影響，有效保護人們的生命和財產(chǎn)安全。這種防震臺的特點有很多。首先，由于它采用了主動控制技術(shù)，其防震性能比傳統(tǒng)的被動式防震設(shè)備更優(yōu)秀，能夠在短時間內(nèi)快速反應(yīng)并作出相應(yīng)的調(diào)整，以最大限度地降低地震對建筑物造成的損傷。其次，該設(shè)備具有高度的自適應(yīng)性和可調(diào)性，可以根據(jù)不同的建筑結(jié)構(gòu)、地形、風(fēng)水等條件進行個性化設(shè)計和...
翹曲度測量儀是一種用于測量物體表面翹曲程度的設(shè)備。它可以被使用在各種不同的領(lǐng)域，如汽車工業(yè)、航空航天、建筑等等。然而，使用這種設(shè)備需要注意一些問題，以確保數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和可靠性。首先，使用翹曲度測量儀時要確保其穩(wěn)定性。由于設(shè)備精度很高，所以即使是微小的移動或震動都會對測量結(jié)果產(chǎn)生影響。因此，在測量過程中應(yīng)盡可能避免人為的干擾，同時也要注意設(shè)備的放置位置，確保其與地面接觸良好，并遠離振動源。其次，使用者需要掌握正確的操作方式。翹曲度測量儀通常配有復(fù)雜的軟件和控制系統(tǒng)，因此需要經(jīng)過...
隨著傳統(tǒng)的2D硅縮放達到其成本極限，半導(dǎo)體行業(yè)正在轉(zhuǎn)向異構(gòu)集成-將具有不同特征尺寸和材料的多個不同組件或管芯的制造，組裝和封裝到單個設(shè)備或封裝中，以提高性能，這就是混合鍵合技術(shù)。EVG是面向MEMS、納米技術(shù)和半導(dǎo)體市場的晶圓鍵合和光刻設(shè)備的供應(yīng)商，近期推出了EVG®320D2W裸片制備和活化系統(tǒng)，這是業(yè)內(nèi)弟一個用于混合硅酸鹽管芯對晶片鍵合活化和清洗系統(tǒng)。晶圓鍵合系統(tǒng)集成了D2W鍵合所需的所有關(guān)鍵預(yù)處理模塊，包括清潔，等離子體活化，芯片對準(zhǔn)驗證和其他必要的計量工具，并...