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硅片作為半導體、光伏及微電子等領域的核心材料,其厚度精度直接影響產(chǎn)品質量與性能。不同應用場景對厚度測量提出多樣化需求,催生出一系列精準高效的測量技術。本文結合技術原理與實際應用場景,系統(tǒng)闡述多種硅片厚度測量方法。一、接觸式測量:機械與壓電技...
HerzTS主動隔振臺介紹:在21世紀納米技術(即先進的半導體代表相關的信息技術,基因療法等生命科學相關技術,原子或分子處理如MEMS和工程技術等新材料生產(chǎn)),振動、噪聲、電磁領域、熱、濕度、干擾等是測量環(huán)境的抑制因素。在納米技術中,為了獲得可靠的結果,使用充氣被動隔振臺無法隔離低頻振動,此時需要主動隔離。主動式隔振系統(tǒng)“TS系列”將作為21世紀納米技術的隔振技術基礎。它將有助于發(fā)展目前的技術和測量、創(chuàng)新和發(fā)展未知的技術。HerzTS主動隔振臺特點:1、在全部的6個自由度范圍...
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