當(dāng)前位置：首頁 > 技術(shù)文章
在半導(dǎo)體制造與微電子領(lǐng)域，晶圓表面涂層厚度的精確控制直接決定了器件性能與良率。傳統(tǒng)膜厚測量方法依賴人工取樣或離線檢測，存在效率低、破壞性、數(shù)據(jù)片面性等痛點。而光學(xué)膜厚儀憑借其非接觸、高精度、全自動化測繪能力，已成為晶圓涂層厚度檢測的核心工具...
在現(xiàn)代電子產(chǎn)品制造過程中，薄膜電阻是一種常見的電阻元件，其性能直接關(guān)系到電子產(chǎn)品的品質(zhì)和可靠性。為了確保薄膜電阻的質(zhì)量，提升生產(chǎn)效率和產(chǎn)品可靠性，薄膜電阻測試儀成為了不能或缺的工具。本文將重點介紹該測試儀器在助力品質(zhì)提升方面的作用。首先，它具有高效的測試能力。傳統(tǒng)的薄膜電阻測試需要大量的人力投入和時間成本，而本儀器采用先進的自動化測試技術(shù)，能夠?qū)崿F(xiàn)對大批量薄膜電阻的快速測試，大大提升了生產(chǎn)效率。通過自動化測試，可以快速篩選出不合格品，減少了人為因素對測試結(jié)果的影響，保證了測試...
薄晶圓解鍵合系統(tǒng)是微電子封裝領(lǐng)域中一項重要的關(guān)鍵工藝技術(shù)。該系統(tǒng)主要用于將薄晶圓上的芯片與其他封裝材料進行可靠連接，實現(xiàn)微電子器件的封裝和組裝。本文將介紹該系統(tǒng)的原理、應(yīng)用以及在微電子封裝領(lǐng)域中的重要性。薄晶圓解鍵合系統(tǒng)的原理基于焊接或結(jié)合技術(shù)，通過在薄晶圓和另一個基底材料之間施加高溫和壓力，使兩者在接觸面上形成牢固的鍵合。常用的鍵合方法包括熱壓鍵合、超聲波鍵合和激光鍵合等。在鍵合過程中，系統(tǒng)會監(jiān)測和控制溫度、壓力和時間等參數(shù)，確保鍵合質(zhì)量和可靠性。目前該系統(tǒng)在微電子封裝領(lǐng)域...
光學(xué)粗糙度測試儀是一種用于測量光學(xué)元件表面粗糙度的專業(yè)儀器。本文將介紹該測試儀器的基本原理和構(gòu)造，以及其在工程、科研等領(lǐng)域中的應(yīng)用。第一段：基本原理和構(gòu)造光學(xué)粗糙度測試儀主要利用光的散射原理來測量光學(xué)元件表面的粗糙度。其基本原理是通過向被測物體表面照射光源，利用光學(xué)元件將散射光收集起來，經(jīng)過后續(xù)分析得到粗糙度信息。該測試儀器的構(gòu)造包括光源、物鏡、三棱鏡、探測器等部分，每個部分都有不同的作用。第二段：在工程領(lǐng)域中的應(yīng)用該測試儀器在工程領(lǐng)域中被廣泛應(yīng)用于光學(xué)元件的制造和表面質(zhì)量的...
白光干涉儀是一種光學(xué)精密測量儀器，主要用于測量微小物體的形貌和薄膜的厚度等。本文將介紹它的基本原理和構(gòu)造，以及其在工程、科研等領(lǐng)域中的應(yīng)用。第一段：基本原理和構(gòu)造白光干涉儀是一種利用光的干涉原理進行測量的儀器。其基本原理是將分束器分成兩路，一路經(jīng)過反射鏡反射，與另一路相遇后發(fā)生干涉，通過探測器檢測干涉條紋的形態(tài)和數(shù)量，得到被測物體表面形貌和薄膜厚度等信息。該儀器的構(gòu)造包括光源、分束器、反射鏡、標(biāo)準(zhǔn)板、探測器等部分，每個部分都有不同的作用。第二段：在工程領(lǐng)域中的應(yīng)用目前，該儀器...
納米壓痕儀是一種用于材料力學(xué)性能表征的重要工具。它可以通過在材料表面施加微小載荷并測量其反應(yīng)來確定材料的硬度、彈性模量、塑性變形等指標(biāo)，是研究材料力學(xué)性能的重要手段之一。本文將介紹該儀器的原理、應(yīng)用和意義，并探討其在材料科學(xué)和工程中的重要性。納米壓痕儀的原理是利用金剛石壓頭在材料表面施加預(yù)定載荷，并測量載荷下材料表面的位移量，從而確定硬度、彈性模量和塑性指數(shù)等力學(xué)參數(shù)。具體而言，當(dāng)壓頭施加力時，會在材料表面產(chǎn)生類似于凹坑的形狀，同時會引起材料表面位移。應(yīng)用基于反向微分算法的壓...